SN74ABT8245 Seria Specjalistyczne logiczne układy funkcyjne

Wyniki: 3
Wybierz Obraz Nr części
 Produc.
Opis Karta charakterystyki Dostępność Wycena (PLN) Filtruj wyniki w tabeli wg ceny jednostkowej zależnej od ilości.
Il. RoHS Model ECAD Produkt
Seria
Minimalna temperatura robocza
Maksymalna temperatura robocza
Opakowanie/obudowa
Opakowanie
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A A 595-SN74ABT8245DWR
Karta charakterystyki
13Na stanie magazynowym
Min.: 1
Wielokr.: 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
Karta charakterystyki
Uwagi o produktach
75Na stanie magazynowym
Min.: 1
Wielokr.: 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A A 595-SN74ABT8245DW
Karta charakterystyki
Niedostępne na stanie, czas realizacji zamówienia 6 tygodni
Min.: 2 000
Wielokr.: 2 000
Szpula: 2 000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel