SN74ABT18245A Seria Specjalistyczne logiczne układy funkcyjne

Wyniki: 3
Wybierz Obraz Nr części
 Produc.
Opis Karta charakterystyki Dostępność Wycena (PLN) Filtruj wyniki w tabeli wg ceny jednostkowej zależnej od ilości.
Il. RoHS Model ECAD Produkt
Seria
Minimalna temperatura robocza
Maksymalna temperatura robocza
Opakowanie/obudowa
Opakowanie
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Device A 5 95-SN74ABT18245ADLR A 595-SN74ABT18245ADLR
Karta charakterystyki
102Na stanie magazynowym
Min.: 1
Wielokr.: 1

SN74ABT18245A - 40 C + 85 C SSOP-56 Tube
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Device A 5 95-SN74ABT18245ADL A 595-SN74ABT18245ADL
Karta charakterystyki
Niedostępne na stanie, czas realizacji zamówienia 6 tygodni
Min.: 1 000
Wielokr.: 1 000
Szpula: 1 000

SN74ABT18245A - 40 C + 85 C SSOP-56 Reel
Texas Instruments Specialty Function Logic Scan Test Device
Karta charakterystyki
Niedostępne na stanie, czas realizacji zamówienia 12 tygodni
Dostępność opcji MouseReel
Min.: 1
Wielokr.: 1
Szpula: 2 000

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT18245A - 40 C + 85 C TSSOP-56 Reel, Cut Tape, MouseReel