Płyty testowe ADXL35x

Płyty testowe ADXL35x firmy Analog Devices umożliwiają szybką ocenę wydajności cichych, niskoszumowych, niskoenergetycznych, 3-osiowych akcelerometrów MEMS. Płyta EVAL-ADXL354BZ generuje sygnał analogowy do obsługi akcelerometrów ±2g i ±4g, natomiast płyta EVAL-ADXL354CZ – akcelerometrów ±2g i ±8g. Płytę EVAL-ADXL355Z zaprojektowano do generowania sygnału cyfrowego do obsługi akcelerometrów ±2g, ±4g i ±8g. Te płyty testowe nadają się dobrze do oceny akcelerometrów ADXL354 i ADXL355 w istniejących systemach. Wynika to z faktu, że płyta testowa jest sztywna i ma niewielkie rozmiary, co minimalizuje jej wpływ zarówno na pomiary systemowe, jak i pomiary przyspieszenia. Płyty testowe EVAL-ADXL356/EVAL-ADXL357 są przeznaczone do oceny 3-osiowych akcelerometrów MEMS ADXL356 i ADXL357.