Płyta testowa EVAL-ADE1201EBZ

Płyta testowa EVAL-ADE1201EBZ firmy Analog Devices to w pełni funkcjonalna karta testowa zaprojektowana do oceny wydajności układu ADE1201 w warunkach zbliżonych do rzeczywistych zastosowań wykorzystujących binarny interfejs wejściowy. ADE1201 to jednokanałowy, konfigurowalny, izolowany układ binarnego wejścia cyfrowego. Niezależnie od zestawu testowego należy zakupić płytę sterownika EVAL-SDP-CB1Z (SDP-B) dla systemowej platformy demonstracyjnej (SDP). Zestaw zawiera oprogramowanie testowe napisane w LabVIEW®, które zapewnia dostęp do rejestrów i funkcji urządzenia za pośrednictwem interfejsu PC.

Nie znaleziono wyników.
Spróbuj zmodyfikować szukany termin poniżej lub odwiedź nasze Centrum pomocy.

Sugestie wyszukiwania

  • Sprawdzić pisownię numeru części lub słów kluczowych
  • Użyj mniejszej liczby słów kluczowych lub użyj innych słów
  • Wyszukiwanie jednorazowo 1 części
  • Zastosuj jednorazowo jeden filtr