2047 Specjalistyczne logiczne układy funkcyjne

Wyniki: 2
Wybierz Obraz Nr części Produc. Opis Karta charakterystyki Dostępność Wycena (PLN) Filtruj wyniki w tabeli wg ceny jednostkowej zależnej od ilości. Il. RoHS Model ECAD Seria Minimalna temperatura robocza Maksymalna temperatura robocza Opakowanie/obudowa Opakowanie
Texas Instruments Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device A 595-8V182512IDGGREP Niedostępne na stanie, czas realizacji zamówienia 18 tygodni
Min.: 2 000
Wielokr.: 2 000
Szpula: 2 000

SN74LVTH182512 - 40 C + 85 C TSSOP-64 Reel
Texas Instruments Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device Niedostępne na stanie, czas realizacji zamówienia 18 tygodni
Min.: 2 000
Wielokr.: 2 000
Szpula: 2 000

SN74LVTH182512 - 40 C + 85 C TSSOP-64 Reel