Wygląda na to, że masz wyłączoną obsługę JavaScript w przeglądarce. Niektóre funkcje na tej stronie nie będą działać bez zalogowania.

Widzisz błąd?

SN74ABT18245ADGGR

Name: Texas Instruments SN74ABT18245ADGGR
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-SNABT18245ADGGR
Price: 29.27 PLN
Availability: OutOfStock

Zdjęcia mają charakter wyłącznie informacyjny
Zobacz specyfikację produktu

Nr Mouser:

595-SNABT18245ADGGR

Nr prod.:

SN74ABT18245ADGGR

Produc.:

Texas Instruments

Opis:

Specialty Function Logic Scan Test Device

Karta charakterystyki:

SN74ABT18245ADGGR Karta charakterystyki

Model ECAD:

Pobierz bezpłatną aplikację Library Loader, aby skonwertować ten plik do narzędzia ECAD Tool. Dowiedz się więcej o modelu ECAD.

.hidden-for-nojs { display: none; } .pull-right-nojs { justify-content: flex-end; }

Atrybuty produktu	Wartość atrybutu	Wybierz atrybut
Producent:	Texas Instruments
Kategoria produktów:	Specjalistyczne logiczne układy funkcyjne
RoHS:
Produkt:	Boundry Scan JTAG Logic
Seria:	SN74ABT18245A
Minimalna temperatura robocza:	- 40 C
Maksymalna temperatura robocza:	+ 85 C
Opakowanie/obudowa:	TSSOP-56
Opakowanie:	Reel
Marka:	Texas Instruments
Styl mocowania:	SMD/SMT
Rodzaj produktu:	Specialty Function Logic
Wielkość opakowania producenta:	2000
Podkategoria:	Logic ICs
Napięcie zasilania – max.:	5.5 V
Napięcie zasilania – min.:	4.5 V
Nazwa handlowa:	SCOPE
Jednostka masy:	252,800 mg

Znalezione produkty:

Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru

Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.

Wybrane atrybuty: 0

Filtruj dokument:

Product Catalogs

Ta funkcja wymaga włączonej obsługi języka JavaScript.

Kody zgodności

TARIC:: 8542399000
CNHTS:: 8542319000
CAHTS:: 8542390000
USHTS:: 8542390090
JPHTS:: 8542390990
MXHTS:: 8542399999
ECCN:: EAR99

Klasyfikacja pochodzenia

Kraj pochodzenia:: Malezja
Kraj montażu:: Niedostępne
Kraj wytworzenia:: Niedostępne

Kraj może ulec zmianie w momencie wysyłki.

Dostępność

Stany magazynowe:: Niedostępne na stanie

Wystąpił nieoczekiwany błąd. Spróbuj ponownie później.
Średni czas produkcji:: 16 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce.

Wpisz ilość:

Minimum: 2000 Wielokrotności: 2000

Cena jednostkowa:

-,-- zł

wewn. Cena:

-,-- zł

Szac. taryfa:

Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il.	Cena jednostkowa	wewn. Cena
Komplet Opakowanie zbiorcze (zamówienie w wielokrotności 2000)
	29,27 zł	58 540,00 zł

SN74ABT18245ADGGR

Produc.: Texas Instruments

Opis: Specialty Function Logic Scan Test Device

Specyfikacja

Dokumenty (5)

Karta charakterystyki

Application Notes

Images

Product Catalogs

Dokumenty dotyczące środowiska

Zgodność ze standardami produktowymi i przepisami handlu

Pozostali klienci kupili również

Dostępność

Cennik (PLN)

QuickView (Szybki podgląd)

Wystąpił nieoczekiwany błąd.

Produc.:

Texas Instruments

Opis:

Specialty Function Logic Scan Test Device