Zestawy do testowania MCX-N5XX-EVK i MCX-N9XX-EVK
Zestawy do testowania MCX-N5XX-EVK i MCX-N9XX-EVK firmy NXP Semiconductors wyposażone są w pamięć QSPI Flash 8 MB i gniazdo karty µSD. MCX-N5XX-EVK i MCX-N9XX-EVK firmy NXP Semiconductors zapewniają lepszą łączność dzięki podwójnym złączom Micro USB OTG, złączu M.2, interfejsowi Ethernet PHY, interfejsowi ARDUINO i interfejsowi Mikroe Click. Zestawy te oferują specjalistyczne funkcje, takie jak urządzenia nadawczo-odbiorcze CAN (MCX-N9XX-EVK) i cyfrowe mikrofony stereo (MCX-N5XX-EVK). Możliwości audio obejmują rozszerzenia DMIC podłączane do wtyków (MCX-N5XX-EVK) i wbudowany kodek (MCX-N5XX-EVK). Zestawy te są wyposażone w złącze JTAG i wbudowany debugger MCULink z monitorem energii dla debugowania. Zestaw czujników składa się z 3-osiowego czujnika przyspieszenia, czujnika temperatury I3C i analogowego czujnika światła.
