TSW14J59EVM

Texas Instruments
595-TSW14J59EVM
TSW14J59EVM

Produc.:

Opis:
Data Conversion IC Development Tools TSW14J59 evaluation module

Cykl życia:
Nowości w Mouser

Na stanie magazynowym: 4

Stany magazynowe:
4 Wysylamy natychmiast
Średni czas produkcji:
1 tydzień Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.
Minimum: 1   Wielokrotności: 1
Cena jednostkowa:
-,-- zł
wewn. Cena:
-,-- zł
Szac. taryfa:
Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il. Cena jednostkowa
wewn. Cena
24 032,18 zł 24 032,18 zł

Atrybuty produktu Wartość atrybutu Wybierz atrybut
Texas Instruments
Kategoria produktów: Narzędzia do rozbudowy układów scalonych do konwersji danych
RoHS:  
Evaluation Modules
Data Capture and Pattern Generator Card
Marka: Texas Instruments
Rodzaj interfejsu: USB
Rodzaj produktu: Data Conversion IC Development Tools
Seria: TSW14J59
Wielkość opakowania producenta: 1
Podkategoria: Development Tools
Znalezione produkty:
Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru
Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.
Wybrane atrybuty: 0

TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
USHTS:
8473301180
ECCN:
EAR99

TSW14J59EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TSW14J59EVM Evaluation Module (EVM) is a next-generation pattern generator and data capture card used to evaluate performances of the current TI JESD204C_B device family of high-speed analog-to-digital converters (ADC) and digital-to-analog converters (DAC). For an ADC, by capturing the sampled data over a JESD204C_B interface when using a high-quality, low-jitter clock and a high-quality input frequency, the TSW14J59 can be used to demonstrate data sheet performance specifications. Using the Texas Instruments JESD201C IP core, the TSW14J59EVM can be dynamically configurable to support lane speeds from 1Gbps to 32Gbps, from 1 to 16 lanes. Together with the accompanying High-Speed Data Converter Pro Graphic User Interface (GUI), the TSW14J59EVM is a complete system that captures and evaluates data samples from the ADC evaluation module, generates and sends desired test patterns to DAC evaluation modules, and performs both tasks at the same time with AFE evaluation modules (transceiver mode).