Płyta testowa RD33774ADSTEVB
Płytka ewaluacyjna NXP Semiconductors RD33774ADSTEVB to referencyjna jednostka monitorująca rozproszone ogniwa (CMU) z wykorzystaniem protokołu ETPL (Electrical Transport Protocol Link). Płyta zawiera jeden układ scalony sterownika (IC) MC33774A baterii połączonych szeregowo. Płytka ewaluacyjna RD33774ADSTEVB zawiera urządzenia typu system-in-package, które wykorzystują technologię o dużej wydajności. Płyta obsługuje szereg rozwiązań analogowych, mieszanych i zasilania. Płytka ewaluacyjna RD33774ADSTEVB przeprowadza konwersję analogowo-cyfrową napięć i prądów różnicowych ogniw.
Nie znaleziono wyników.
Spróbuj zmodyfikować szukany termin poniżej lub odwiedź nasze Centrum pomocy.
Spróbuj zmodyfikować szukany termin poniżej lub odwiedź nasze Centrum pomocy.
Sugestie wyszukiwania
- Sprawdzić pisownię numeru części lub słów kluczowych
- Użyj mniejszej liczby słów kluczowych lub użyj innych słów
- Wyszukiwanie jednorazowo 1 części
- Zastosuj jednorazowo jeden filtr