SKY67177-11

Skyworks Solutions, Inc.
873-SKY67177-11
SKY67177-11

Produc.:

Opis:
RF Amplifier High Gain LNA

Cykl życia:
Nowe produkty:
Nowości od tego producenta.
Model ECAD:
Pobierz bezpłatną aplikację Library Loader, aby skonwertować ten plik do narzędzia ECAD Tool. Dowiedz się więcej o modelu ECAD.

Na stanie magazynowym: 2 704

Stany magazynowe:
2 704 Wysylamy natychmiast
Średni czas produkcji:
29 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.
Minimum: 1   Wielokrotności: 1
Cena jednostkowa:
-,-- zł
wewn. Cena:
-,-- zł
Szac. taryfa:

Cennik (PLN)

Il. Cena jednostkowa
wewn. Cena
21,63 zł 21,63 zł
15,31 zł 153,10 zł
14,28 zł 357,00 zł
12,56 zł 1 256,00 zł
11,91 zł 2 977,50 zł
10,71 zł 5 355,00 zł
9,72 zł 9 720,00 zł
8,26 zł 24 780,00 zł

Atrybuty produktu Wartość atrybutu Wybierz atrybut
Skyworks
Kategoria produktów: Wzmacniacz RF
RoHS:  
2.3 GHz to 5 GHz
4.75 V to 5.25 V
34.5 dB
1 dB
Low Noise Amplifiers
SMD/SMT
QFN-16
- 15 dBm
- 5 dBm
- 40 C
+ 115 C
SKY67177-11
Marka: Skyworks Solutions, Inc.
Kraj montażu: Not Available
Kraj wytworzenia: Not Available
Kraj pochodzenia: MY
Tłumienność odbicia wejścia: 18 dB
Izolacja dB: 50 dB
Liczba kanałów: 1 Channel
Rodzaj produktu: RF Amplifier
Wielkość opakowania producenta: 3000
Podkategoria: Wireless & RF Integrated Circuits
Znalezione produkty:
Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru
Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.
Wybrane atrybuty: 0

Ta funkcja wymaga włączonej obsługi języka JavaScript.

TARIC:
8542330000
CAHTS:
8542330000
USHTS:
8542330001
MXHTS:
8542330299
ECCN:
5A991.g

SKY67177-11 High Gain Low Noise Amplifier

Skyworks Solutions Inc. SKY67177-11 High Gain Low-Noise Amplifier features second-stage bypass and exceptional linearity. The compact 3mm x 3mm, 16-pin QFN package LNA is designed for 4G LTE and 5G NR base stations operating from 2.3GHz to 5GHz. The internal active bias circuitry provides stable performance over temperature and process variation.