Narzędzia rozwojowe do układów scalonych zarządzania zasilaniem

.hide-partial { max-height: none; } .show-more { display: none; }

Płyty do testowania FRDM-GD3100

Płyty do testowania FRDM-GD3100 firmy NXP Semiconductors są wyposażone w dwa jednokanałowe sterowniki bramek IGBT MC33GD3100 do pracy w trybie półmostkowym. Płyta FRDM-GD3100 odwzorowuje pracę sterowników silników jedno- i trójfazowych. Płyty te wykorzystują mikrokontroler Freedom KL25Z, który zapewnia połączenie między komputerem PC z oprogramowaniem SPIGen a programowalnymi rejestrami SPI w sterowniku MC33GD3100. Płyty FRDM-GD3100 są dostępne w dwóch wersjach: FRDM-GD3100EVM i FRDMGD3100HBIEVM. Wersja FRDM-GD3100EVM służy do testowania modułów półmostkowych Fuji M653 lub M6+ IGBT. Wersja FRDMGD3100HBIEVM jest przeznaczona do współpracy z półmostkowymi modułami IGBT HybridPACK firmy Infineon. Te płyty testowe zawierają płytę translatora.

.catnav-wrapper { height: auto; overflow: visible; } .catalog-nav-tabs ul { white-space: normal; }

Wyniki: 3

Zastosowane filtry:

Napięcie wejściowe

Narzędzie służy do oceny

Resetuj wszystko

Wyszukiwanie w obrębie wyników

Na stanie magazynowym

Normalny stan magazynowy

Aktywny

Nowe produkty

Zgodne z RoHS

.search-refine-wrapper { display: inline-block; min-width: 100%; } .scroll-body { overflow-x: visible; } .search-table-wrapper { overflow: visible; } .hide-partial { max-height: none; } .show-more { display: none; }