Wygląda na to, że masz wyłączoną obsługę JavaScript w przeglądarce. Niektóre funkcje na tej stronie nie będą działać bez zalogowania.

Widzisz błąd?

RD33774PDSTEVB

Name: NXP RD33774PDSTEVB
Brand: NXP Semiconductors
SKU: 771-RD33774PDSTEVB
Price: 568.5 PLN
Availability: InStock

Zdjęcia mają charakter wyłącznie informacyjny
Zobacz specyfikację produktu

Nr Mouser:

771-RD33774PDSTEVB

Nr prod.:

RD33774PDSTEVB

Produc.:

NXP Semiconductors

Opis:

Power Management IC Development Tools RD33774PDSTEVB

Cykl życia:

Nowe produkty:

Nowości od tego producenta.

Karta charakterystyki:

RD33774PDSTEVB Karta charakterystyki (PDF)

Więcej informacji

Dowiedz się więcej o NXP Semiconductors RD33774PDSTEVB

Na stanie magazynowym: 1

Stany magazynowe:: 1

Wysylamy natychmiast

Wystąpił nieoczekiwany błąd. Spróbuj ponownie później.
Dostępna ilość z otwartych zamówień:: 4

Oczekiwane: 04.03.2026
Średni czas produkcji:: 15

tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.

Wpisz ilość:

Minimum: 1 Wielokrotności: 1

Cena jednostkowa:

-,-- zł

wewn. Cena:

-,-- zł

Szac. taryfa:

Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il.	Cena jednostkowa	wewn. Cena
	568,50 zł	568,50 zł

.hidden-for-nojs { display: none; } .pull-right-nojs { justify-content: flex-end; }

Atrybuty produktu	Wartość atrybutu	Wybierz atrybut
Producent:	NXP
Kategoria produktów:	Narzędzia rozwojowe do układów scalonych zarządzania zasilaniem
RoHS:
Produkt:	Evaluation Boards
Rodzaj:	Battery Management
Narzędzie służy do oceny:	MC33774
Marka:	NXP Semiconductors
Rodzaj interfejsu:	I2C, SPI
Rodzaj produktu:	Power Management IC Development Tools
Wielkość opakowania producenta:	1
Podkategoria:	Development Tools
Nazwy umowne nr części:	935448105598

Znalezione produkty:

Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru

Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.

Wybrane atrybuty: 0

Filtruj dokument:

Karta charakterystyki

RD33774PDSTEVB Karta charakterystyki (PDF)

TARIC:: 8473302000
CNHTS:: 8543709990
CAHTS:: 8473302000
USHTS:: 8473301180
MXHTS:: 8473300401
ECCN:: EAR99

Płyta testowa RD33774PDSTEVB

Płyta testowa RD33774PDSTEVB firmy NXP Semiconductors jest wyposażona w jeden układ scalony sterownika baterii (IC) MC33774ATP obsługujący do 18 ogniw. Płyta służy do szybkiego prototypowania zastosowań bazujących na MC33774ATP, które obejmują wykrywanie napięcia i temperatury. Płyta testowa RD33774PDSTEVB oferuje zintegrowane pasywne równoważenie ogniw do 200 mA. Ta płyta testowa nadaje się idealnie do szybkiego prototypowania sprzętu i oprogramowania wysokonapięciowego systemu zarządzania bateriami (HVBMS). Płyta ewaluacyjna RD33774PDSTEVB umożliwia przeprowadzanie konwersji analogowo-cyfrowej na różnicowych napięciach i prądach ogniwa. Typowe zastosowania to motoryzacja i przemysł.