TPS22917EVM

Texas Instruments
595-TPS22917EVM
TPS22917EVM

Produc.:

Opis:
Power Management IC Development Tools TPS22917EVM

Na stanie magazynowym: 9

Stany magazynowe:
9 Wysylamy natychmiast
Średni czas produkcji:
12 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.
W przypadku tego produktu zgłoszono długi czas realizacji.
Minimum: 1   Wielokrotności: 1   Maksymalnie: 5
Cena jednostkowa:
-,-- zł
wewn. Cena:
-,-- zł
Szac. taryfa:

Cennik (PLN)

Il. Cena jednostkowa
wewn. Cena
129,15 zł 129,15 zł

Atrybuty produktu Wartość atrybutu Wybierz atrybut
Texas Instruments
Kategoria produktów: Narzędzia rozwojowe do układów scalonych zarządzania zasilaniem
RoHS: N
Evaluation Modules
Load Switch
1 V to 5.5 V
TPS22917
TPS22917
Marka: Texas Instruments
Prąd wyjścia: 2 A
Rodzaj produktu: Power Management IC Development Tools
Wielkość opakowania producenta: 1
Podkategoria: Development Tools
Jednostka masy: 3,634 g
Znalezione produkty:
Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru
Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.
Wybrane atrybuty: 0

Kody zgodności
TARIC:
9030820000
CNHTS:
8543909000
CAHTS:
9030820000
USHTS:
9030820000
KRHTS:
9030820000
MXHTS:
9030820100
ECCN:
EAR99
Klasyfikacja pochodzenia
Kraj pochodzenia:
Stany Zjednoczone
Kraj montażu:
Stany Zjednoczone
Kraj wytworzenia:
Niedostępne
Kraj może ulec zmianie w momencie wysyłki.

TPS22917EVM Load Switch Evaluation Module

Texas Instruments TPS22917EVM 5.5V, 2A, 80mΩ On-Resistance Load Switch Evaluation Module allows different input voltage (1.0V to 5.5V) under different loading conditions (0A to 2A) to the TPS22917 load switches. The TPS22917EVM easily and accurately evaluates parameters such as the on-resistance, rise time, and output pull-down resistance. The VIN and VOUT connections to the device and the PCB layout routing can handle high continuous currents. This provides a low-resistance pathway into and out of the device under test. Test point connections allow control of the device with user-defined test conditions and enables accurate RON measurements.