TPD3S714-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S714-Q1EVM
TPD3S714-Q1EVM

Produc.:

Opis:
Power Management IC Development Tools TPD3S714-Q1EVM

Na stanie magazynowym: 10

Stany magazynowe:
10 Wysylamy natychmiast
Średni czas produkcji:
12 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.
Minimum: 1   Wielokrotności: 1   Maksymalnie: 5
Cena jednostkowa:
-,-- zł
wewn. Cena:
-,-- zł
Szac. taryfa:
Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il. Cena jednostkowa
wewn. Cena
360,56 zł 360,56 zł

Atrybuty produktu Wartość atrybutu Wybierz atrybut
Texas Instruments
Kategoria produktów: Narzędzia rozwojowe do układów scalonych zarządzania zasilaniem
RoHS:  
Evaluation Modules
Power Management Specialized
3.3 V, 5 V
TPD3S714-Q1
TPD3S714
Marka: Texas Instruments
Kraj montażu: Not Available
Kraj wytworzenia: Not Available
Kraj pochodzenia: US
Opis/funkcja: Evaluation module for TPD3S714-Q1 USB 2.0 interface protection with short to battery and short to ground
Rodzaj interfejsu: USB
Maksymalna temperatura robocza: + 125 C
Minimalna temperatura robocza: - 40 C
Rodzaj produktu: Power Management IC Development Tools
Kwalifikacje: AEC-Q100
Wielkość opakowania producenta: 1
Podkategoria: Development Tools
Znalezione produkty:
Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru
Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.
Wybrane atrybuty: 0

TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99

TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed for the evaluation of the TPD3S714-Q1, a USB 2.0 interface protection IC. The evaluation module contains four TPD3S714-Q1's (U1, U2, U3, and U4). U1 is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 & USB2) for capturing system-level tests. U2 is configured with 4 SMA (S1 - S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. U3 is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. U4 is pinned out for device-level tests.