ASEK-20-T-KIT

Allegro MicroSystems
250-ASEK-20-T-KIT
ASEK-20-T-KIT

Produc.:

Opis:
Current Sensor Development Tools ASEK-20 EVAL KIT FOR MULTIPLE SENSORS

Na stanie magazynowym: 10

Stany magazynowe:
10 Wysylamy natychmiast
Średni czas produkcji:
2 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.
W przypadku tego produktu zgłoszono długi czas realizacji.
Minimum: 1   Wielokrotności: 1
Cena jednostkowa:
-,-- zł
wewn. Cena:
-,-- zł
Szac. taryfa:
Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il. Cena jednostkowa
wewn. Cena
3 826,70 zł 3 826,70 zł

Atrybuty produktu Wartość atrybutu Wybierz atrybut
Allegro MicroSystems
Kategoria produktów: Narzędzia do rozbudowy rezystorów pomiarowych current sense
RoHS:  
Evaluation Kits
Hall-Effect Sensor
ASEK-20
Bulk
Marka: Allegro MicroSystems
Rodzaj produktu: Current Sensor Development Tools
Wielkość opakowania producenta: 1
Podkategoria: Development Tools
Znalezione produkty:
Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru
Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.
Wybrane atrybuty: 0

CNHTS:
8543709990
CAHTS:
8473302000
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300401
ECCN:
EAR99

Płyty testowe dla czujników prądu

Płyty testowe dla czujników prądu firmy Allegro MicroSystems  to wygodna metoda szybkiego sprawdzenia czujników prądu Allegro w środowisku laboratoryjnym bez konieczności stosowania niestandardowej płytki drukowanej. Te płyty testowe są przeznaczone do użycia z założonym przez użytkownika układem scalonym czujnika prądu Allegro.

ASEK-20 Sensor Evaluation Kit

Allegro MicroSystems ASEK-20 Sensor Evaluation Kit provides a powerful and flexible system for evaluating and programming Allegro devices from multiple sensor families. These families include angle position sensors, switches and latches, linear position sensors, and current sensors. The ASEK-20 Kit is the main programmer and is intended to be combined with device-specific daughterboards (available separately) that allow benchtop programming and evaluation of individual Allegro Sensors.