Wygląda na to, że masz wyłączoną obsługę JavaScript w przeglądarce. Niektóre funkcje na tej stronie nie będą działać bez zalogowania.

Widzisz błąd?

RD33774PC3EVB

Name: NXP RD33774PC3EVB
Brand: NXP Semiconductors
SKU: 771-RD33774PC3EVB
Price: 1116.15 PLN
Availability: InStock

Zdjęcia mają charakter wyłącznie informacyjny
Zobacz specyfikację produktu

Nr Mouser:

771-RD33774PC3EVB

Nr prod.:

RD33774PC3EVB

Produc.:

NXP Semiconductors

Opis:

Power Management IC Development Tools RD33774PC3EVB

Cykl życia:

Nowe produkty:

Nowości od tego producenta.

Karta charakterystyki:

RD33774PC3EVB Karta charakterystyki (PDF)

Więcej informacji

Dowiedz się więcej o NXP Semiconductors RD33774PC3EVB

Na stanie magazynowym: 1

Stany magazynowe:: 1 Wysylamy natychmiast

Wystąpił nieoczekiwany błąd. Spróbuj ponownie później.
Średni czas produkcji:: 15 tygodni Oczekiwany czas produkcji w fabryce dotyczący ilości większych niż pokazane.

Wpisz ilość:

Minimum: 1 Wielokrotności: 1

Cena jednostkowa:

-,-- zł

wewn. Cena:

-,-- zł

Szac. taryfa:

Ten produkt jest wysyłany BEZPŁATNIE

Cennik (PLN)

Il.	Cena jednostkowa	wewn. Cena
	1 116,15 zł	1 116,15 zł

.hidden-for-nojs { display: none; } .pull-right-nojs { justify-content: flex-end; }

Atrybuty produktu	Wartość atrybutu	Wybierz atrybut
Producent:	NXP
Kategoria produktów:	Narzędzia rozwojowe do układów scalonych zarządzania zasilaniem
RoHS:
Produkt:	Evaluation Boards
Rodzaj:	Battery Management
Narzędzie służy do oceny:	MC33774
Marka:	NXP Semiconductors
Rodzaj interfejsu:	I2C, SPI
Rodzaj produktu:	Power Management IC Development Tools
Wielkość opakowania producenta:	1
Podkategoria:	Development Tools
Nazwy umowne nr części:	935451952598

Znalezione produkty:

Aby pokazać podobne produkty, zaznacz przynajmniej jedno pole wyboru

Aby wyświetlić podobne produkty w tej kategorii, zaznacz co najmniej jedno pole wyboru powyżej.

Wybrane atrybuty: 0

Filtruj dokument:

Karta charakterystyki

RD33774PC3EVB Karta charakterystyki (PDF)

TARIC:: 9030820000
CAHTS:: 9030820000
USHTS:: 9030820000
KRHTS:: 9030820000
MXHTS:: 9030820100
ECCN:: EAR99

Płyta testowa RD33774PC3EVB

Płyta testowa RD33774PC3EVB firmy NXP Semiconductors wykorzystuje trzy układy scalone sterowników baterii MC33774ATP, które mogą monitorować do 18 ogniw. Ta płyta testowa ma konstrukcję referencyjnej scentralizowanej jednostki monitorującej komórki (CMU) obsługującej komunikację za pośrednictwem linku protokołu transportu elektrycznego (ETPL). Płyta testowa RD33774PC3EVB idealnie nadaje się do szybkiego prototypowania sprzętu i oprogramowania systemu zarządzania akumulatorami wysokiego napięcia (HVBMS) 800 V. Płyta testowa nie wykorzystuje izolacji pojemnościowej do komunikacji zewnętrznej. Płyta testowa RD33774PC3EVB składa się z jednostki zarządzania bateriami HVBMS (BMU) i skrzynki przyłączeniowej baterii 800 V HVBMS (BJB). Typowe zastosowania to motoryzacja i przemysł.